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申请/专利权人：苏州泓冠半导体有限公司
摘要：本发明涉及半导体元件测试技术领域，公开了一种新型半导体元件测试片，包括：半导体元件本体，其为被检测端半导体元件主体结构，且半导体元件本体两侧对称设置有与测试铜片对接的端口。该新型半导体元件测试片，经过位于绝缘架两侧对称设置的测试铜片增加对半导体元件本体接触点连接位置，使得单个测试片可以实现对半导体提供检测环境，随着半导体元件本体放入支撑承托板表面提供支撑，支撑承托板的设置避免检测过程中，受到半导体元件本体重量的影响下过度牵拉，导致测试铜片受到压力形变，位于测试铜片表面对称设置的半导体元件夹板一以及半导体元件夹板二进一步限制测试铜片位置，避免测试铜片受到外力形变。
主权项：1.一种新型半导体元件测试片，包括：半导体元件本体（1），其为被检测端半导体元件主体结构，且半导体元件本体（1）两侧对称设置有与测试铜片（12）对接的端口，所述测试铜片（12）接入半导体元件本体（1）的检测弹片插口内，且测试铜片（12）位于绝缘架（3）内部设置，绝缘架（3）与测试铜片（12）构成半导体元件测试片主体结构；其特征在于：所述绝缘架（3）内部设置有矩形开口，且绝缘架（3）的开口内安装有支撑承托板（2），并且支撑承托板（2）位于半导体元件本体（1）底端设置，所述绝缘架（3）的矩形开口内壁面对称设置有条形开口，且绝缘架（3）的条形开口内设置有防滑导向轨（4），所述防滑导向轨（4）表面滑动连接有夹持组件，用于对半导体元件本体（1）和测试铜片（12）连接处进行夹持，便于测试铜片（12）与半导体元件本体（1）充分接触，确保测试信号的准确传输；测试铜片（12），其对称设置在所述绝缘架（3）表面，所述测试铜片（12）一侧插入绝缘片（19）一侧，且绝缘片（19）两端对称设置有定位栓（20），所述定位栓（20）安装在绝缘架（3）表面，且定位栓（20）贯穿绝缘片（19）内部，所述绝缘片（19）表面设置有检测架（17），且检测架（17）顶端等距设置有对接插口（18），所述对接插口（18）一端连接通电线（16），且通电线（16）底端设置有衔接转接端（15），并且衔接转接端（15）一侧连接导线接口（14）。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 苏州泓冠半导体有限公司 一种新型半导体元件测试片
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