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申请/专利权人：深圳市江元智造科技有限公司
摘要：本申请实施例提供了一种基于MTK芯片的DDR检测方法、系统及介质，该方法包括：获取MTK芯片参数，基于MTK芯片参数写入存储程序，生成设定存储信息；启动DDR测试程序，基于DDR测试程序对设定存储信息进行检测，生成检测结果；基于检测结果分析存储空间的存储性能信息，分析存储性能信息是否满足设定的条件信息；若满足设定的条件信息，则将检测结果实时传输至终端；若不满足设定的条件信息，则分析存储空间的异常信息，基于异常信息调整写入存储程序，更改设定存储信息；通过DDR测试程序分析存储空间的存储性能，从而根据存储空间的异常动态调整存储程序，提高MTK芯片的运行能力。
主权项：1.一种基于MTK芯片的DDR检测方法，其特征在于，包括：获取MTK芯片参数，基于MTK芯片参数写入存储程序，生成设定存储信息；启动DDR测试程序，基于DDR测试程序对设定存储信息进行检测，生成检测结果；基于检测结果分析存储空间的存储性能信息，分析存储性能信息是否满足设定的条件信息；若满足设定的条件信息，则将检测结果实时传输至终端；若不满足设定的条件信息，则分析存储空间的异常信息，基于异常信息调整写入存储程序，更改设定存储信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市江元智造科技有限公司 一种基于MTK芯片的DDR检测方法、系统及介质
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