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申请/专利权人：同方威视科技江苏有限公司;清华大学;同方威视技术股份有限公司
摘要：本发明涉及基于放射性的元素分析领域，尤其是，涉及一种元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，所述元素分析系统包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正。通过本申请的元素分析系统、方法和装置、以及程序产品，能够提高修正系数的计算准确度，从而提高元素分析检测精度。
主权项：1.一种元素分析系统，包括：X射线扫描设备，包括X射线源和探测器阵列，对物料进行双能的X射线扫描；瞬发伽玛中子活化分析设备，在所述物料传输方向上，安装在所述X射线扫描设备的下游；以及控制装置，基于所述X射线扫描获得的各位置上的物料的尺寸、质量衰减系数和密度，计算自吸收修正系数，对伽马能谱进行修正，所述尺寸包括体积，所述控制装置包括：标定模块，针对充分混合的标准样品，以不随位置变化的质量衰减系数和密度，计算标准样品的透过率；待测物料透过率计算模块，针对未充分混合的物料，以随位置变化的质量衰减系数和密度、以及所述物料的体积，计算所述物料的透过率；以及修正系数模块，通过对标准样品的透过率除以所述物料的透过率，计算自吸收修正系数。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 同方威视科技江苏有限公司 清华大学 同方威视技术股份有限公司 元素分析系统、方法和装置、以及程序产品
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