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一种基于电子元件性能数据的检测方法及系统 

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申请/专利权人:俐玛光电科技(北京)有限公司

摘要:本公开提供了一种基于电子元件性能数据的检测方法及系统,其中,该方法包括:利用性能检测设备对待测电子元件进行测试,得到初始性能数据;基于自适应滤波方法对初始性能数据进行多尺度去噪处理,得到去噪性能数据;基于训练好的性能检测模型对去噪性能数据进行性能检测,得到针对待测电子元件的检测结果。本公开通过多尺度去噪处理可以突出不同分解尺度下的细节特征,更好地抑制了噪声,增强了数据处理的精度,从而使得后续基于性能检测模型进行性能检测的精度更高。

主权项:1.一种基于电子元件性能数据的检测方法,其特征在于,包括:利用性能检测设备对待测电子元件进行测试,得到初始性能数据;基于自适应滤波方法对所述初始性能数据进行多尺度去噪处理,得到去噪性能数据;基于训练好的性能检测模型对所述去噪性能数据进行性能检测,得到针对所述待测电子元件的检测结果;其中,所述基于自适应滤波方法对所述初始性能数据进行多尺度去噪处理,包括:在多个分解尺度上对所述初始性能数据进行小波分解,得到各个分解尺度对应的小波系数;根据所述初始性能数据的大小构建各个分解尺度下的滤波阈值;基于所述滤波阈值和所述小波系数构建数据滤波模型;基于所述数据滤波模型对所述初始性能数据进行滤波,得到滤波性能数据;对所述滤波性能数据进行数据清洗,得到所述去噪性能数据;构建各个分解尺度下的滤波阈值的具体计算公式为: 其中,λj表示在第j个分解尺度下的滤波阈值,σj表示在第j个分解尺度下的噪声标准差,Nj表示在第j个分解尺度下信号的长度,j表示分解尺度;所述基于所述滤波阈值和所述小波系数构建数据滤波模型,包括:在每个分解尺度下,计算对应的小波系数与滤波阈值之间的差值;基于每个分解尺度对应的差值,确定在所述分解尺度下滤波后的小波系数;基于各个分解尺度下滤波后的小波系数,构建所述数据滤波模型;确定在所述分解尺度下滤波后的小波系数的计算公式为: 其中,表示在第j个分解尺度下滤波后的第k个小波系数,ωj,k表示在第j个分解尺度下的第k个小波系数,λj表示在第j个分解尺度下的滤波阈值,sign为符号函数,a为第一预设系数,b为第二预设系数。

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权利要求:

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