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一种大陡度光学元件表面面形的测量方法 

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申请/专利权人:复旦大学

摘要:本发明属于光学检测技术领域,公开了一种大陡度光学元件表面面形的测量方法,包括(1)对被测工件调心调平;(2)标定初始位置;(3)将被测面母线分为多个区域;移动对应倾角的反射镜组,适配合适角度的反射镜到色散共焦传感器测量光路;传感器模组移动到轨迹中的预设位置,持续转动被测工件,使传感器模组实现整圈轮廓的测量并保存数据;(4)全部轮廓测量完成,输出测量结果,各个轴和传感器模组恢复到初始安全状态。本发明通过设计一组反射镜来扩展色散共焦传感器的测量范围,避免了传感器在测量过程中绕被测件轮廓母线法向的旋转,引入的误差源更少,降低了误差监测要求,同时本发明具有更简单的机械结构。

主权项:1.一种大陡度光学元件表面面形的测量方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)对被测工件调心调平;(2)标定初始位置;(3)将被测面母线分为多个区域;移动对应倾角的反射镜组,适配合适角度的反射镜到色散共焦传感器测量光路;传感器模组移动到轨迹中的预设位置,持续转动被测工件,使传感器模组实现整圈轮廓的测量并保存数据;(4)全部轮廓测量完成,输出测量结果,各个轴和传感器模组恢复到初始安全状态;所述反射镜组设于色散共焦传感器的测量光路中,包括一个倾角为90°的标定反射镜和多个倾角依次减小的反射镜,传感器的测量光束经倾角为的反射镜偏折后,测量曲面的斜率范围为。

全文数据:

权利要求:

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