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协议芯片的调试电路、方法、协议芯片及调试系统 

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申请/专利权人:厦门拓尔微电子有限公司

摘要:本发明公开一种协议芯片的调试电路、方法、协议芯片及调试系统,涉及集成电路设计领域,解决了借助调试芯片对待调试芯片进行调试时,导致调试工作的成本、复杂度、错误率高的问题。协议芯片的调试电路包括:充电通信接口,与终端连接;逻辑模块,与充电通信接口连接;调试检测模块,与协议芯片的配置接口和逻辑模块连接,用于在检测到配置接口外接下拉模块时,向逻辑模块发送第一信号;逻辑模块,用于在接收到第一信号后,进入调试模式,通过充电通信接口接收终端发送的调试指令信息,并根据该调试指令信息执行相应的调试操作。

主权项:1.一种协议芯片的调试电路,其特征在于,包括:充电通信接口,与终端连接;逻辑模块,与所述充电通信接口连接;调试检测模块,与所述协议芯片的配置接口和所述逻辑模块连接,用于在检测到所述配置接口外接下拉模块时,向所述逻辑模块发送第一信号;所述逻辑模块,用于在接收到所述第一信号后,进入调试模式,通过所述充电通信接口接收所述终端发送的调试指令信息,并根据所述调试指令信息执行相应的调试操作。

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