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申请/专利权人：北京万集科技股份有限公司
摘要：本申请提供一种污染程度的确定方法、电子设备及计算机可读存储介质。污染程度的确定方法包括：获取激光雷达的回波信号；确定回波信号中的污染回波信号和目标回波信号，污染回波信号是激光雷达的窗片上的污染物对应的信号，目标回波信号是激光雷达检测的参照物对应的信号；确定污染回波信号和目标回波信号的差分信号；根据差分信号确定窗片的污染程度。由于随着污染程度的增加，污染回波信号的幅值增大，目标回波信号的幅值减小，污染回波信号和目标回波信号的差分信号增大，也更容易被检测到，因此，根据差分信号可以确定窗片的污染程度，且可以提高污染程度的检测准确度。
主权项：1.一种污染程度的确定方法，其特征在于，包括：获取激光雷达的回波信号；确定所述回波信号中的污染回波信号和目标回波信号，所述污染回波信号是所述激光雷达的窗片上的污染物对应的信号，所述目标回波信号是所述激光雷达检测的参照物对应的信号；确定所述污染回波信号和所述目标回波信号的差分信号；根据所述差分信号确定所述窗片的污染程度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京万集科技股份有限公司 污染程度的确定方法、电子设备及计算机可读存储介质
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