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关键路径分析方法与电子装置 

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申请/专利权人:瑞昱半导体股份有限公司

摘要:本发明提出一种关键路径分析方法与电子装置,该关键路径分析方法包括:取得关于数字电路的多条关键路径;根据关键路径的级数对关键路径进行排序并将这些关键路径分成多个批次;以及使用集成电路模拟程序依序对批次进行分析以产生关于关键路径的静态时序分析结果。

主权项:1.一种关键路径分析方法,适用于一电脑系统,该关键路径分析方法包括:取得关于一数字电路的多个关键路径;根据该多个关键路径的多个级数,对该多个关键路径进行排序并将该多个关键路径分成多个批次;以及使用一集成电路模拟程序依序对该多个批次进行分析,以产生关于该多个关键路径的一静态时序分析结果。

全文数据:

权利要求:

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