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申请/专利权人:苏州雄立科技有限公司
摘要:本申请提供一种用于存储器自检及修复的方法及装置,所述方法包括:根据控制信号定义或测试模式配置,预定义存储器测试算法;根据测试算法启动存储器测试逻辑,以获取待测存储器的读数据,所述测试逻辑包括数据处理模块;如果所述读数据和比较数据不一致,记录错误地址和错误数据;根据所述错误地址和错误数据,计算故障率;如果故障率小于或等于故障率阈值,调用所述数据处理模块,所述数据处理模块用于生成修复信息;基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。所述方法通过一个测试逻辑,可完成对存储器的自检和修复,还可通过管脚或寄存器灵活选择存储器的数量以及检测方案,使方法更灵活,以解决资源浪费的问题。
主权项:1.一种用于存储器自检及修复的方法,其特征在于,包括:根据控制信号定义或测试模式配置,预定义存储器测试算法;根据测试算法启动存储器测试逻辑,以获取待测存储器的读数据,所述测试逻辑包括数据处理模块;如果所述读数据和比较数据不一致,记录错误地址和错误数据;根据所述错误地址和错误数据,计算故障率;如果故障率小于或等于故障率阈值,调用所述数据处理模块,所述数据处理模块用于生成修复信息;基于所述修复信息对所述待测存储器的错误地址和错误数据修复。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 苏州雄立科技有限公司 用于存储器自检及修复的方法及装置
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