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申请/专利权人：速度科技股份有限公司

摘要：本发明公开了一种基于精细化分割的空间测距方法，步骤：S1：对图像进行预处理；S2：进行词汇表的整理；S3：将图像传入图像检测模型进行特征提取与信息融合，再解耦前景和背景并进行掩膜预测，生成前景掩膜和背景掩膜；再进行检索，最后进行分层分割和类感知部件分割，得到分割图像；S4：选取待测距的目标类别进行目标测距，获得目标的掩膜到图像采集装置的距离，即目标到图像采集装置的距离；S5：计算所述目标在三维空间中的最大距离和最小距离，从而完成目标的空间测距，得到目标在三维空间中的立体距离。该方法能在三维空间中，对每个目标获取精细分割结果，从而对每个部件进行测距，再从距离集合中得知目标在三维空间中的立体距离。

主权项：1.一种基于精细化分割的空间测距方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1：对接收到的图像进行预处理；S2：根据预处理后的图像，进行词汇表的整理；S3：将图像传入图像检测模型，进行特征提取与信息融合，再解耦前景和背景并进行掩膜预测，生成前景掩膜和背景掩膜，再进行检索，最后进行分层分割和类感知部件分割，得到分割图像；S4：根据获取到的分割图像，选取待测距的目标类别进行目标测距，获得目标的掩膜到图像采集装置的距离，即目标到图像采集装置的距离；S5：根据步骤S4得到目标的所有掩膜的距离，计算所述目标在三维空间中的最大距离和最小距离，从而完成目标的空间测距，得到目标在三维空间中的立体距离；所述步骤S4的具体步骤为：S41：选取待测距的目标类别，得到所述目标的掩膜，结合所述步骤S3中获得的所有目标类别的分割结果，由于每个目标均由多个掩膜组成，因此对每个目标T包含的所有掩膜图进行测距，然后选择其中一个掩膜T1；S42：将步骤S41中选定的掩膜T1所在的范围进行方框框定，获取方框中的像素边长P1和像素边长P2；S43：根据像素边长P1或像素边长P2，以及预先测定的图像采集装置的焦距和物体的实际距离，计算物体到图像采集装置的实际距离D，公式为：D＝W*FP1；其中：D是物体到图像采集装置的实际距离，W是物体的实际宽度，F是图像采集装置的焦距，为预先通过已知距离的实物测定的；P1是物体在图像中的像素边长。

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