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申请/专利权人：真贺科技(江苏)有限公司

摘要：本发明提出了一种三维闪存老化测试方法及系统，涉及三维闪存老化测试技术领域，进行双排双面金手指测试连接，获取老化测试任务，对三维闪存进行多通道老化测试；获取第一测试数据，根据所述第一测试数据获取异常数据种类的数据偏离值，根据异常数据种类进行老化测试任务的拆分，获得测试子任务，根据所述测试子任务进行重测试，获得重测试数据；根据数据偏离值对测试子任务进行测试资源的分配，获取第二测试数据，计算测试优化率，进而计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得评估结果，本发明通过优化测试流程和配置，提高了三维闪存多通道老化测试的效率和准确性，为产品的质量控制和寿命预测提供了有力支持。

主权项：1.一种三维闪存老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：a、进行双排双面金手指测试连接，获取老化测试任务，所述双排双面金手指根据所述老化测试任务对三维闪存进行多通道老化测试；其中，所述a包括：对PCB中的金手指进行双排触点错位设置，将整体PCB插入连接器中，将每一排金手指均与其对应的触头进行接触，进而获得电气连接，将电气信号引脚与机械位置进行匹配，获得双排双面金手指测试连接；获取预设老化测试任务，根据所述老化测试任务对所述三维闪存进行多通道老化测试；b、获取第一测试数据，根据所述第一测试数据获取异常数据种类的数据偏离值，根据异常数据种类进行老化测试任务的拆分，获得测试子任务，根据所述测试子任务进行重测试，获得重测试数据；其中，所述b包括：获取多通道老化测试中的测试数据，获得第一测试数据，对所述第一测试数据进行预处理，按照数据种类对所述第一测试数据进行分类，获得多个种类数据，将所述多个种类数据分别与对应阈值进行比较，根据比较结果获取异常数据种类，将种类数据与对应异常数据进行差值计算，获得数据偏离值，将所述数据偏离值进行排序，获得种类数据的异常排序；根据所述异常数据种类获得对应测试子任务，根据所述测试子任务在所述多通道老化测试中调取对应通道或最接近通道，对所述异常数据进行针对性重测试，获得重测试数据；c、根据数据偏离值对测试子任务进行测试资源的分配，获取第二测试数据，计算测试优化率，进而计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得评估结果；其中，所述c包括：获取测试资源，根据数据偏离值结合异常排序对测试子任务进行测试资源从多到少的分配，获得资源分配信息；当测试资源分配完成之后，再次获取测试过程中的测试数据，获得第二测试数据，根据第一测试数据、重测试数据结合所述第二测试数据计算测试优化率，获得测试优化结果；其中，所述测试优化率的计算公式为： 其中，Yo为测试优化率，ΔCP为重测试数据总数据偏离值，ΔYP为第一测试数据总数据偏离值，ΔRP为第二测试数据总数据偏离值，YC为第一测试数据总数据量，CE为重测试数据总数据量，RC为第二测试数据总数据量；其中，所述计算测试错误值，对测试老化程度进行评估，获得评估结果，包括：根据所述测试优化率、第二测试数据和第一测试数据计算测试错误值，对测试错误值对测试情况进行分析，获得分析结果；所述测试错误值的计算公式为： 其中，Wcz为测试错误值，YCc为第一测试数据错误值，CEc为重测试数据错误值，RCc为第二测试数据错误值，Yo为测试优化率，YC为第一测试数据总数据量，CE为重测试数据总数据量，RC为第二测试数据总数据量；根据所述分析结果对测试老化程度进行评估，获得评估结果。

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