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申请/专利权人：亚德诺半导体国际无限责任公司
摘要：本公开涉及用于光学检测的数据简化。在光学检测系统中，在与下游对象或者目标处理电路进行电路间通信之前，可以从ADC电路数据中识别目标特征。以这种方式，与其它方法相比，可以减少传输到此类下游处理电路的数据量，从而简化接收信号处理链并且节省功率。用于识别所述目标特征的第一层信号处理电路可以位于与ADC电路共用的集成电路封装上或者封装内，并且用于对象处理或者范围估计的下游处理电路可以由数据链路馈送，所述数据链路比所述ADC电路和所述第一层信号处理电路之间的链路满足更少的严格要求。
主权项：1.一种光学检测系统，包括：模数转换ADC块，所述ADC块包括至少一个输入通道，所述ADC块被配置为接收从对应的光敏检测器获得的电信号，并且被配置为提供包括样本的数字输出，所述样本为由所述至少一个输入通道定义的转换分辨率和转换速率确定的输入的离散时间表示；以及信号处理器电路，所述信号处理器电路被配置为从所述ADC块接收所述数字输出，并且识别所述ADC输出内对应于特征的至少一个时间窗口，所述信号处理器电路包括进一步的数字输出，以基于包含所述特征的所述至少一个时间窗口提供简化表示，所述进一步的数字输出传输所述简化表示，其中所述信号处理器电路被配置为基于第一阈值和第二阈值提供所述简化表示，其中所述信号处理器电路被配置为将所述第一阈值应用于所述数字输出以保存超过所述第一阈值的样本以及与超过所述第一阈值的样本邻近的样本，由此定义对应于所述特征的至少一个时间窗口的持续时间，并且其中所述信号处理器电路被进一步配置为将所述第二阈值应用于所述至少一个时间窗口内的样本，由此定义在所述至少一个时间窗口内将保存的样本。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 亚德诺半导体国际无限责任公司 用于光学检测的数据简化
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