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申请/专利权人：安徽凯盛应用材料有限公司;蚌埠中恒新材料科技有限责任公司

摘要：本发明公开一种钛酸钡粉末介电常数的测试方法，先在待测钛酸钡粉末中加入10～20％质量份数的粘合剂，通过辊压机制备成大小均一的钛酸钡薄层圆形瓷片，经过排胶、涂银、烧银工序后，用精密LCR数字电桥对圆形瓷片电容值进行测定，根据所测得的电容值及圆形瓷片的厚度和直径，通过公式计算出钛酸钡粉末的介电常数。该方法可操作性强，测试结果稳定可靠，在产品的出厂检测及性能应用方面具有重要的指导意义。

主权项：1.一种钛酸钡粉末介电常数的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：（1）钛酸钡薄层圆形瓷片的制备：向待测钛酸钡粉末中加入10～20%质量份数的粘合剂，充分搅拌均匀后，缓慢加入自动辊压机，辊压成厚度一致的钛酸钡薄层生料瓷饼，然后放在冲片机的压盘下，冲制成若干个尺寸一致的钛酸钡薄层圆形瓷片；（2）排胶：将步骤（1）得到的钛酸钡薄层圆形瓷片放在洁净平整的氧化锆或氧化铝承烧板上，连同承烧板一起放入马弗炉，根据预设的升温、保温参数进行排胶；正面排胶结束后，取出钛酸钡薄层圆形瓷片，翻面并为背面排胶；（3）涂银：将步骤（2）排胶后的钛酸钡薄层圆形瓷片放在洁净平整的氧化锆或氧化铝承烧板上，使用细毛刷将银浆均匀的涂刷在钛酸钡薄层圆形瓷片的正面；（4）烧银：将步骤（3）涂银后的钛酸钡薄层圆形瓷片连同承烧板一起放入马弗炉中，根据预设的升温、保温参数进行烧银，正面烧银完成后，取出钛酸钡薄层圆形瓷片和承烧板，重复步骤（3）和步骤（4）对背面进行烧银；（5）电容值测定：将步骤（4）得到烧银后的钛酸钡薄层圆形瓷片用精密LCR数字电桥进行电容值C的测定；（6）计算介电常数：用游标卡尺测出钛酸钡薄层圆形瓷片的厚度和直径，根据所测的电容值C及钛酸钡薄层圆形瓷片的厚度h和直径D，通过公式K=C×144000×hD2计算出钛酸钡的介电常数K；步骤（1）所述的粘合剂由丙烯酸乳液和醇胺类增塑剂复配而成，其分解温度小于300℃；步骤（2）中排胶升温速率为0.3～0.5℃min，保温温度300～400℃，保温时间4～6h。

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