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申请/专利权人：歌尔股份有限公司
申请日：2024-07-29
公开（公告）日：2024-11-08
公开（公告）号：CN118914224A
专利技术分类：...检测标准；校准[2006.01]
专利摘要：本发明提供一种校准装置及校准方法，其中校准装置包括校准工装、设置在所述校准工装上的不同规格的校准组件和感应芯片、AOI检测单元以及PLC控制单元，其中，所述校准工装，用于装配所述校准组件，并将所述校准组件流转至所述AOI检测单元所在的工序；所述感应芯片，用于识别所述校准工装是否流转至所述AOI检测单元所在的工序；所述AOI检测单元，用于对所述校准组件进行检测；所述PLC控制单元，用于控制所述AOI检测单元对所述校准组件进行检测。利用本发明，能够解决现有的AOI检测过程中检测设备松动导致检测不准确、测试的打工方式不同以及人工点检方式效率低等问题。
专利权项：1.一种校准装置，其特征在于，包括：校准工装、设置在所述校准工装上的不同规格的校准组件和感应芯片、AOI检测单元以及PLC控制单元，其中，所述校准工装，用于装配所述校准组件，并将所述校准组件流转至所述AOI检测单元所在的工序；所述感应芯片，用于识别所述校准工装是否流转至所述AOI检测单元所在的工序；所述AOI检测单元，用于对所述校准组件进行检测；所述PLC控制单元，用于控制所述AOI检测单元对所述校准组件进行检测。
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