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申请/专利权人：上海概伦电子股份有限公司
摘要：本披露公开了一种低频噪声测试电路及低频噪声测试方法。其中，所述低频噪声测试电路包括：被测目标，其包括测量端和信号采集端；供电偏置电路，其与被测目标的测量端连接，且配置为向所述被测目标提供测试用电源；以及噪声测试电路，其与所述被测目标的信号采集端连接，且配置为采集所述被测目标的信号采集端的输出信号，并对所述输出信号进行低噪声采样处理，以得到关于所述被测目标的低频噪声。通过本披露的技术方案，可以基于低频噪声测试电路中的巧妙的电路结构设计，实现对被测目标的低频噪声的精准以及高效测量。
主权项：1.一种低频噪声测试电路，其特征在于，包括：被测目标，其包括测量端，其中一所述测量端作为信号采集端；供电偏置电路，其与被测目标的测量端连接，且配置为向所述被测目标提供测试用电源；以及噪声测试电路，其与所述被测目标的信号采集端连接，且配置为采集所述被测目标的信号采集端的输出信号，并对所述输出信号进行低噪声采样处理，以得到关于所述被测目标的低频噪声。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 上海概伦电子股份有限公司 低频噪声测试电路及低频噪声测试方法
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