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申请/专利权人：无锡科利达新能源科技有限公司
摘要：本申请涉及平整度测量技术领域，具体涉及一种用于金属制品的表面平整度测量方法及系统，该方法包括：采集金属垫片表面的高度数据，将采集的所有高度数据组成高度矩阵；将高度矩阵均分为各子矩阵；确定子矩阵内的各划痕区域；得到各子矩阵的划痕加权面积；基于各划痕区域内高度数据的分布，对划痕区域内的各高度数据进行优化，得到各优化高度数据；结合所述划痕加权面积、所述优化高度数据，以及子矩阵内所有高度数据的分布，确定各子矩阵的划痕粗糙度；结合所述划痕粗糙度，以及各子矩阵的位置，确定金属垫片的表面平整度。从而提高对金属垫片表面平整度测量的准确度。
主权项：1.一种用于金属制品的表面平整度测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：采集金属垫片表面的高度数据，将沿金属垫片同一直径方向的所有高度数据作为一组，基于各组高度数据构建高度矩阵；将高度矩阵均分为各子矩阵；计算子矩阵内所有高度数据的均值，记为第一均值；基于子矩阵内高度数据与所述第一均值的数值关系，以及子矩阵内高度数据的分布，确定子矩阵内的各划痕区域；结合各子矩阵中划痕区域内高度数据的数量与子矩阵在高度矩阵中的列数，分析划痕区域内高度数据的平均水平，确定各子矩阵的划痕加权面积；计算各划痕区域内所有高度数据的归一化值的均值，记为第二均值，结合所述第二均值与划痕区域内的各高度数据，得到各优化高度数据；基于各子矩阵内所有优化高度数据与所述第一均值的差异的分布，结合所述划痕加权面积，确定各子矩阵的划痕粗糙度；结合所述划痕粗糙度，以及各子矩阵在高度矩阵中的列数，确定金属垫片的表面平整度；所述划痕加权面积的确定过程为：计算子矩阵中各划痕区域内高度数据的数量与子矩阵在高度矩阵中的列数的乘积，计算所述乘积与对应划痕区域内所有高度数据的归一化值的平均值的比值，所述划痕加权面积为子矩阵中所有划痕区域的所述比值的融合结果。
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