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用于测试设备的遮光机构及测试设备 

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申请/专利权人:台积电(中国)有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司

摘要:本申请公开了一种用于测试设备的遮光机构及测试设备。遮光机构包括:罩体,其内部限定有容装空间,罩体的其中一侧设有第一开口;门体,门体可活动地连接于罩体,且选择性地敞开或关闭第一开口。罩体的至少部分侧板设有第二开口,第二开口通过遮帘组件覆盖,遮帘组件包括沿同一方向相继布置的多个遮挡帘,至少部分遮挡帘被配置为能够朝背离与其相邻的其他遮挡帘的方向移动或变形,以在遮挡帘和与其相邻的其他遮挡帘之间形成过线缝隙,过线缝隙与容装空间连通。过线缝隙可通过测试设备的线缆穿过,不会在遮帘组件处形成较大的透光面积,可以对测试设备需要遮光的部分有效地遮光,有利于提高测试设备的测试精度,规整了测试设备的走线。

主权项:1.一种用于测试设备的遮光机构,其特征在于,包括:罩体,所述罩体的内部限定有容装空间,所述罩体的其中一侧设有第一开口,所述第一开口与所述容装空间连通;以及门体,所述门体可活动地连接于所述罩体,所述门体被配置为选择性地敞开或关闭所述第一开口;其中,所述罩体的至少部分侧板设有第二开口,所述第二开口通过遮帘组件覆盖,所述遮帘组件包括沿同一方向相继布置的多个遮挡帘,至少部分所述遮挡帘被配置为能够朝背离与其相邻的其他所述遮挡帘的方向移动或变形,以在所述遮挡帘和与其相邻的其他所述遮挡帘之间形成过线缝隙,所述过线缝隙与所述容装空间连通。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 台积电(中国)有限公司 台湾积体电路制造股份有限公司 用于测试设备的遮光机构及测试设备

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