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申请/专利权人:武汉云恒科技有限公司
摘要:本实用新型公开了一种光电子器件用测试设备,包括;上机壳,所述上机壳的底部焊接有下承载架,所述上机壳的顶部依次焊接有呈等角度排布的上下料区、低温测试区、高温测试区和外观测试区,所述下承载架内部的底端安装有旋转驱动组件。本实用新型通过安装有高温测试区等,使得装置优化了自身的性能,启动旋转驱动组件上的伺服电机和电机控制器,便于控制转盘以每次九十度的频率进行旋转,这可以使得置物盒依次对准上下料区、低温测试区、高温测试区和外观测试区,从而使得光电子器件可以实现自动化、连续化的低温测试、外观测试和高温测试功能,这提升了光电子器件的测试功能和效率、便于推广。
主权项:1.一种光电子器件用测试设备,其特征在于,包括;上机壳3,所述上机壳3的底部焊接有下承载架4,所述上机壳3的顶部依次焊接有呈等角度排布的上下料区5、低温测试区6、高温测试区2和外观测试区8,所述下承载架4内部的底端安装有旋转驱动组件10,所述旋转驱动组件10输出端上机壳3的内部连接有转盘14,所述转盘14的顶端均匀固定有电动伸缩杆11,所述电动伸缩杆11的输出端连接有置物盒12,所述电动伸缩杆11用于驱动置物盒12竖向运动,所述外观测试区8内部的顶端通过螺丝安装有工业摄像机1;制冷壳18,所述制冷壳18焊接于低温测试区6上,所述制冷壳18的内部依次安装有蒸发器15、压缩机16和冷凝器17,所述低温测试区6和高温测试区2内部的底端皆和上机壳3之间安装有自动开闭机构9,所述自动开闭机构9包括电动滑轨901、底板902和封堵板903。
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