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申请/专利权人:武汉云岭光电股份有限公司
摘要:本发明涉及一种掩埋异质结激光器制备方法,包括S1,于衬底上依次生长InP缓冲层和光栅层,接着进行光栅制作,并整面生长光栅掩埋层、有源层、InP层以及牺牲层,S2,接着生长波导掩膜层,S3,将波导掩膜层以外区域刻蚀到InP缓冲层,再将波导掩膜层以外区域腐蚀到衬底,S4,接着依托波导掩膜层进行P型InP的掩埋生长;S5,去掉波导掩膜层下牺牲层两侧的部分材料;S6,再进行N型InP的掩埋生长,其中N型InP的生长会填充两侧腐蚀掉的牺牲层;S7,去掉波导掩膜层和牺牲层,整面生长P型盖层和接触层,完成掩埋异质结电流阻挡层的制作。本发明一方面能调节载流子注入密度,另一方面能形成高耸有效的电流限制层,减少漏电,提高激光器的电流注入效率。
主权项:1.一种掩埋异质结激光器制备方法,其特征在于,包括如下步骤:S1,于衬底上依次生长InP缓冲层和光栅层,接着进行光栅制作,并整面生长光栅掩埋层、有源层、InP层以及牺牲层,S2,接着生长波导掩膜层,S3,将波导掩膜层以外区域刻蚀到InP缓冲层,再将波导掩膜层以外区域腐蚀到衬底,S4,接着依托所述波导掩膜层进行P型InP的掩埋生长,所述P型InP高于所述有源层,低于所述牺牲层;S5,去掉波导掩膜层下牺牲层两侧的部分材料;S6,再进行N型InP的掩埋生长,其中N型InP的生长会填充两侧腐蚀掉的牺牲层;S7,去掉波导掩膜层和牺牲层,整面生长P型盖层和接触层,完成掩埋异质结电流阻挡层的制作;所述牺牲层的生长与所述光栅掩埋层,有源层以及InP层一起生长,或者所述牺牲层单独生长;单独生长具体为:在生长了光栅掩埋层后,将光栅表面凹槽填平,使得表面平整;接着依次生长有源层和InP层;生长波导掩膜层后进行刻蚀,保留波导层上面的波导掩膜层,再刻蚀无掩膜区域到所述InP缓冲层,再腐蚀无掩膜区域到衬底;在所述波导掩膜层两侧生长P型InP,其中,P型InP的生长高度与所述InP层上表面平齐;去掉波导掩膜层,接着整面生长牺牲层,并在所述牺牲层上生长掩膜层;接着去掉有源层两侧所述掩膜层;再去掉掩膜层以外及两侧牺牲层,通过控制腐蚀时间,腐蚀牺牲层宽度小于所述InP层。
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权利要求:
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