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申请/专利权人：瑞昱半导体股份有限公司
摘要：本发明揭露了存储元件测试电路及存储元件测试方法。存储元件测试电路用来测试一存储元件，包括一储存电路、一比较电路及一控制电路。该储存电路储存一测试数据。该比较电路耦接该储存电路。该控制电路耦接该储存电路、该比较电路及该存储元件，用来执行以下步骤以测试该存储元件：将该测试数据写入该存储元件；控制该存储元件进入一低功耗模式；控制该存储元件进入一功能模式；以及控制该比较电路比较该存储元件的一输出数据与该测试数据。
主权项：1.一种存储元件测试电路，用来测试一存储元件，包括：一储存电路，用来储存一测试数据；一比较电路，耦接该储存电路；一控制电路，耦接该储存电路、该比较电路及该存储元件，该控制电路用来执行以下步骤以测试该存储元件：（A）将该测试数据写入该存储元件；其中，在测试开始时，该控制电路控制该存储元件操作在功能模式，致能该存储元件，并且将储存于该储存电路的该测试数据写入该存储元件；（B）在该测试数据写入完成后，控制该存储元件进入一低功耗模式；（C）在控制该存储元件进入该低功耗模式之后等待一恢复信号；（D）根据该恢复信号控制该存储元件进入该功能模式；（E）控制该存储元件进入该功能模式；（F）控制该比较电路比较该存储元件的一输出数据与该测试数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 瑞昱半导体股份有限公司 存储元件测试电路及存储元件测试方法
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