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申请/专利权人:杭州通尚光电有限公司
摘要:本发明属于显示装置测试技术领域,具体为一种亮室对比度测量装置,包括测量积分球,该积分球上设置样品安装口、进光口、第一测量口、第二测量口,并在各处对应设置被测样品、照明光源、第一测量装置和第二测量装置,其中第一测量装置的测量区域对应样品安装口的中心区域,且其光轴与样品安装口的样品平面的法线构成0~10度的夹角;第二测量装置的测量区域对应测量积分球内壁样品安装口一侧的内表面。另外设置光测量装置组件,光测量装置组件的进光口I分别对准第一测量口和第二测量口的出光口。该装置可以降低对积分球尺寸的要求,同时能够保证测量精度,且可以计算得到任意光谱分布的漫射光照下的亮室对比度。
主权项:1.一种亮室对比度测量装置的使用方法,亮室对比度测量装置包括测量积分球,该测量积分球内表面喷涂均匀高反射率漫反射涂层,其特征在于:测量积分球上设置样品安装口、进光口、第一测量口、第二测量口;所述进光口处安装照明光源,其中照明光源与进光口相对应;该装置还包括光测量装置组件,所述光测量装置组件包括第一光测量装置和第二光测量装置,第一测量装置与第一测量口相对应,第二测量装置与第二测量口相对应,第一光测量装置具有第一进光口,第二光测量装置具有第二进光口,第一进光口对准第一测量装置的出光口,第二进光口对准第二测量装置的出光口;所述第一测量装置的测量区域对应样品安装口的中心区域,且第一测量装置的光轴与样品安装口的样品平面的法线构成8度的夹角;所述第二测量装置的测量区域对应测量积分球内壁的测量内表面,该测量内表面位于样品安装口一侧;使用方法包括:使用时,将照明光源点亮,先将标准白板安装到样品安装口处,第一光测量装置和第二光测量装置分别测量标准白板的光谱分布L0λ和测量积分球内壁靠近样品安装口处的内表面的光谱分布Lr0λ,其中试验用的标准白板是一个已知光谱反射比ρλ及亮度系数K0的漫反射白板;然后移除标准白板,将被测样品安装到样品安装口,让被测样品不发光,测试被测样品表面的光谱分布L1λ和测量积分球内壁靠近样品安装口处的内表面的光谱分布Lr1λ,接着将被测样品点亮,测量白屏时被测样品表面的光谱分布L2λ和测量内表面的光谱分布Lr2λ,最后,测量黑屏时被测样品表面的光谱分布L3λ和内表面的光谱分布Lr3λ;在完成以上测试过程后得到:L0λ=Eλ*ρλ*K0(式1)Lr0λ=Eλ*ρ1λ*K1(式2)L1λ=E1λ*ρDλ*K(式3)Lr1λ=E1λ*ρ1λ*K1(式4)L2λ=LWλ+ρDWλ*E2λ*KW(式5)Lr2λ=E2λ*ρ1λ*K1(式6)L3λ=LBλ+ρDBλ*E3λ*KB(式7)Lr3λ=E3λ*ρ1λ*K1(式8)由式1、2、3、4可以得到:被测样品的光谱辐射亮度系数为ρDλ*K=ρλ*K0*Lr0λ*L1λLr1λ*L0λ;由式1、2、6、8得到E2λ、E3λ,将其分别代入式5和式7得到ρDWλ*KW,ρDBλ*KB,由此计算得到任意光谱分布的漫射光照下的亮室对比度:假设照明光源的光谱辐照度分布为ESλ,若被测样品的光谱辐射亮度系数不随点亮状态而改变:亮室对比度=LW+LALB+LA式中:LW=∑LWλ*Vλ*△λLB=∑LBλ*Vλ*△λLA=∑ρDλ*K*ESλ*△λ若被测样品的光谱辐射亮度系数随点亮状态而改变:亮室对比度=LW+LAWLB+LAB式中:LW=∑LWλ*Vλ*△λLB=∑LBλ*Vλ*△λLAW=∑ρDWλ*KW*ESλ*△λLAB=∑ρDBλ*KB*ESλ*△λ式中:Eλ为标准白板表面的光谱辐射照度,E1λ为被测样品未点亮时表面的光谱辐射照度,E2λ为被测样品点亮白屏时表面的光谱辐射照度,E3λ为被测样品点亮黑屏时表面的光谱辐射照度,K0为已知的标准白板亮度系数,K1为测量积分球的内表面处的亮度系数,ρ1λ为测量积分球的内表面处的光谱反射比,ρDλ为被测样品不发光时表面的光谱反射比,K为被测样品不发光时的亮度系数,ρDWλ为被测样品亮态白屏时表面的光谱反射比,KW为被测样品亮态白屏时的亮度系数,ρDBλ为被测样品亮态黑屏时表面的光谱反射比,KB为被测样品亮态黑屏时的亮度系数,LWλ为在暗室测得的显示屏亮态白屏的光谱辐射亮度,LBλ为在暗室测得的显示屏亮态黑屏的光谱辐射亮度。
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