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非破坏性存储器自测试 

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申请/专利权人:西门子工业软件有限公司

摘要:一种电路中的存储器测试电路,包括:测试控制器;存储器数据源选择设备,其被配置为从来自存储器的输出的数据和从测试控制器输出的测试数据中选择存储器的写入端口的输入数据;和存储器地址源选择设备,其被配置为从存储器的一个或多个预设地址中的一者和从测试控制器输出的地址中选择存储器的地址端口的地址。所述一个或多个预设地址对应于存储器的一个或多个保留位置,所述一个或多个保留位置被配置为临时存储待测试的存储器的一个或多个位置的数据。

主权项:1.一种电路中的存储器测试电路,所述存储器测试电路可配置为对所述电路中的存储器执行测试,同时保留所述存储器的内容,所述存储器测试电路包括:测试控制器;存储器数据源选择设备,其被配置为从来自所述存储器的输出的数据和从所述测试控制器输出的测试数据中选择所述存储器的写入端口的输入数据;和存储器地址源选择设备,其被配置为从所述存储器的一个或多个预设地址中的一者和从所述测试控制器输出的地址中选择所述存储器的地址端口的地址,所述一个或多个预设地址对应于所述存储器的一个或多个保留位置,所述一个或多个保留位置被配置为临时存储所述测试中待测试的所述存储器的一个或多个位置的数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西门子工业软件有限公司 非破坏性存储器自测试

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