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一种大满阱电荷量的CMOS像元结构 

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申请/专利权人:北京空间机电研究所

摘要:本发明涉及一种大满阱电荷量的CMOS像元结构,属于半导体领域;Si:N结构为正方体结构;其中n个竖直层均匀贴附在Si:N结构的前侧壁处;另外n个竖直层对称均匀贴附在Si:N结构的后侧壁处;水平层均匀贴附在Si:N结构的上表面;每个竖直层上对应安装1个竖直MOS结构;水平MOS结构均匀贴附在水平层的上表面;每个水平MOS结构上表面对应安装1个驱动电极;n为不小于2的正整数;本发明可充分利用像元空间区域对光生电荷进行存储,极大地提高了像元对于光生电荷的存储效率,从而实现像元满阱的大幅提升;同时可以提升电极对于电荷传输的控制效率,实现较高的电荷传输效率以及电荷的高速转传输。

主权项:1.一种大满阱电荷量的CMOS像元结构,其特征在于:包括Si:N结构(1)、2组竖直层(2)、1个水平层(3)、2组竖直MOS结构(4)、1组水平MOS结构(5)和1组驱动电极(6);其中,Si:N结构(1)为正方体结构;其中1组竖直层(2)均匀贴附在Si:N结构(1)的前侧壁处;另外1组竖直层(2)对称均匀贴附在Si:N结构(1)的后侧壁处;水平层(3)均匀贴附在Si:N结构(1)的上表面;每组竖直层(2)上对应安装1组竖直MOS结构(4);水平MOS结构(5)均匀贴附在水平层(3)的上表面;水平MOS结构(5)上表面对应安装1组驱动电极(6)。

全文数据:

权利要求:

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