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申请/专利权人:深圳平湖实验室
摘要:本公开的绝缘栅双极晶体管、其制作方法及电子装置,可提高IGBT的可靠性,包括至少一个元胞结构,元胞结构包括:依次叠置的第一n‑漂移层、第二n型掺杂漂移层、p‑阱层和n+发射极;沟槽,贯穿n+发射极、p‑阱层和第二n型掺杂漂移层,沟槽包括第一沟槽;栅极,包括位于第一沟槽内的第一栅极;栅绝缘层,至少自第一沟槽与第一栅极之间延伸至n+发射极远离p‑阱层的一侧;p‑保护层,包括第一p‑结构,第一p‑结构包括第一底部、第一台面部、以及连接第一底部和第一台面部的第一连接部;其中,第一底部位于第一沟槽的底面与栅绝缘层之间,第一连接部位于第一沟槽的侧面与栅绝缘层之间,第一台面部位于n+发射极与栅绝缘层之间。
主权项:1.一种绝缘栅双极晶体管,其特征在于,包括至少一个元胞结构,所述元胞结构包括:第一n-漂移层;第二n型掺杂漂移层,位于所述第一n-漂移层的一侧;p-阱层,位于所述第二n型掺杂漂移层远离所述第一n-漂移层的一侧;n+发射极,位于所述p-阱层远离所述第二n型掺杂漂移层的一侧;沟槽,贯穿所述n+发射极、所述p-阱层和所述第二n型掺杂漂移层,所述沟槽包括第一沟槽;栅极,包括位于所述第一沟槽内的第一栅极;栅绝缘层,至少自所述第一沟槽与所述第一栅极之间延伸至所述n+发射极远离所述p-阱层的一侧;p-保护层,包括第一p-结构,所述第一p-结构包括第一底部、第一台面部、以及连接所述第一底部和所述第一台面部的第一连接部;其中,所述第一底部位于所述第一沟槽的底面与所述栅绝缘层之间,所述第一连接部位于所述第一沟槽的侧面与所述栅绝缘层之间,所述第一台面部位于所述n+发射极与所述栅绝缘层之间。
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