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申请/专利权人:深圳市汇芯通信技术有限公司
摘要:本发明公开了一种优化Bosch刻蚀工艺侧壁的方法,包括步骤:S1,预处理:提供Bosch刻蚀工艺处理后的晶圆;采用第一清洗液对经Bosch刻蚀工艺处理后的晶圆进行预处理;S2,腐蚀:将经步骤S1预处理后的晶圆放置于硅腐蚀液中进行常温腐蚀;S3,去掩膜:于室温条件下,采用第二清洗液对经步骤S2腐蚀后的晶圆进行清洗,用以去除晶圆表面的SiO2掩膜。本发明所述优化方法对Bosch刻蚀工艺侧壁波纹进行处理形成平缓的形貌,以提升器件的性能以及寿命。
主权项:1.一种优化Bosch刻蚀工艺侧壁的方法,其特征在于,包括步骤:S1,预处理:提供Bosch刻蚀工艺处理后的晶圆;采用第一清洗液对经Bosch刻蚀工艺处理后的晶圆进行预处理;S2,腐蚀:将经步骤S1预处理后的晶圆放置于硅腐蚀液中进行常温腐蚀;S3,去掩膜:于室温条件下,采用第二清洗液对经步骤S2腐蚀后的晶圆进行清洗,用以去除晶圆表面的SiO2掩膜。
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百度查询: 深圳市汇芯通信技术有限公司 一种优化Bosch刻蚀工艺侧壁的方法
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