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申请/专利权人：西安电子科技大学
摘要：本申请的实施例涉及相干探测建模技术领域，特别涉及一种基于Kirchhoff理论的相干探测建模方法。所述方法包括：根据探测器的平方律特性，得到光电流表达式；将目标材料的粗糙面离散为多个小面元；基于Kirchhoff理论，求解单个小面元Δs的入射光场和散射光场将单个小面元Δs的入射光场和散射光场离散求和，得到整个目标材料的入射光场和散射光场将入射光场与散射光场代入光电流表达式，得到目标材料的整个粗糙面的相干探测模型I；改变材料类型、介电常数以及入射和出射场的偏振状态，利用相干探测模型I，分析材料本身对相干探测的影响，得到不同偏振状态下的相干探测结果。本申请首次引入目标材料介电常数对相干探测的影响，提高了探测技术的精确度和适用性。
主权项：1.一种基于Kirchhoff理论的相干探测建模方法，其特征在于，所述方法包括：根据探测器的平方律特性，得到光电流表达式；将目标材料的粗糙面离散为多个小面元；基于Kirchhoff理论，求解单个小面元Δs的入射光场和单个小面元Δs的散射光场将单个小面元Δs的入射光场和单个小面元Δs的散射光场进行离散求和，得到目标材料的整个粗糙面的入射光场与散射光场将目标材料的整个粗糙面的入射光场与散射光场代入光电流表达式，得到目标材料的整个粗糙面的相干探测模型I；改变材料类型、介电常数以及入射和出射场的偏振状态，利用目标材料的整个粗糙面的相干探测模型I，分析材料本身对相干探测的影响，得到不同偏振状态下的相干探测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 一种基于Kirchhoff理论的相干探测建模方法
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