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申请/专利权人：先进微晶圆私人有限公司
摘要：本发明公开了一种光损耗测量系统，其包括设置在第一光纤端口组件上的光源单元。第一光纤端口组件104与第一光栅耦合器单元连接。第一光栅耦合器单元106与分路器单元连接。分路器单元将光转移到多条路径。多条路径与组合器模块组合。组合器模块与第二光栅耦合器单元连接。第二光栅耦合器单元与第二光纤端口组件连接。第二光纤端口组件与光功率检测器模块连接。
主权项：1.一种用于通过波长路径划分测量晶片级测试中的光损耗的系统100，所述系统包括：光源单元102，与第一光纤端口组件104连接以提供输入光波长；第一光栅耦合器单元106，其与所述第一光纤端口组件104连接以耦合相应的光纤阵列FA；分路器单元108，与所述第一光栅耦合器单元106连接，以将所述输入光波长转移到多条路径110A、110B…110C；组合器模块112，与所述多条路径110A、110B…110C连接以组合光波长；第二光栅耦合器单元114，与所述组合器模块112连接以耦合输出光纤阵列；光功率检测器模块118，与第二光纤端口组件116连接以收集输出光谱。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 先进微晶圆私人有限公司 通过波长路径划分测量晶片级测试中光损耗的方法和系统
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