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申请/专利权人：西安电子科技大学;国网陕西省电力有限公司电力科学研究院
摘要：本发明公开了一种基于缺陷熵动态深度推理的MicroLED检测方法和系统，涉及图像分类领域，用以兼顾检测效率和准确率。本发明利用训练的神经网络模型对待推理的MicroLED图像的类别进行推理；其中，根据所述待推理的MicroLED图像的缺陷熵来确定由所述神经网络模型进行推理的推理深度。本发明利用缺陷熵来表征图像的复杂度，并根据与待推理的MicroLED图像的缺陷熵成非线性正相关的原则确定推理深度，对简单的图像设置较浅的推理深度，对复杂的图像设置较深的推理深度，避免了在推理过程中一边计算一边判断是否退出的问题，从而提高了推理效率和识别精度。
主权项：1.一种基于缺陷熵动态深度推理的MicroLED检测方法，该方法利用训练的神经网络模型对待推理的MicroLED图像的类别进行推理；其特征在于，根据所述待推理的MicroLED图像的缺陷熵来确定由所述神经网络模型进行推理的推理深度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 国网陕西省电力有限公司电力科学研究院 基于缺陷熵动态深度推理的Micro LED检测方法和系统
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