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一种基于下压过载的薄膜开关按键测试设备 

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申请/专利权人:广州市嘉艺电子薄膜开关有限公司

摘要:本发明属于薄膜开关测试技术领域,具体涉及一种基于下压过载的薄膜开关按键测试设备,包括测试台以及开关组件,所述测试台上固定设有基座以及支撑架;还包括按压机构,所述按压机构包括驱动组件以及按压组件;所述检测机构包括设于按压组件上的压力检测组件,以及设于测试台上的数据检测组件。本发明通过控制装置控制驱动组件,进而带动按压组件进行移动,完成对开关组件上的按键进行按压,当按键上的触点与薄膜开关上的触点相触碰,此时开关组件处于导通状态,通过压力检测组件能够检测按压组件对按键施加的按压力,同时通过数据检测组件能够对开关组件进行导通后的电压以及电流进行数据检测以及收集,进而对其收集的数据进行判断分析。

主权项:1.一种基于下压过载的薄膜开关按键测试设备,其特征在于:包括测试台(10)以及开关组件(50),所述测试台(10)上固定设有基座(11)以及支撑架(12);还包括按压机构(20),所述按压机构(20)包括设于所述支撑架(12)上的驱动组件(21),所述驱动组件(21)输出端固定连接有按压组件(22),所述按压组件(22)包括设置于所述基座(11)上方的压头(221),以及固定设于所述驱动组件(21)输出端的压板(222);检测机构(30),所述检测机构(30)包括固定设于所述按压组件(22)上的压力检测组件(31),以及设置于所述测试台(10)上的数据检测组件(32);控制装置(40),所述控制装置(40)分别与所述按压机构(20)以及所述检测机构(30)电性连接;其中,通过控制装置(40)控制所述驱动组件(21)带动按压组件(22)进行移动,进而对开关组件(50)上的按键进行按压,当按键上的触点与开关上的触点相触碰,开关组件(50)处于导通状态时,通过压力检测组件(31)能够检测按压组件(22)对按键施加的按压力,同时通过数据检测组件(32)能够对所述开关组件(50)进行导通后的电压以及电流进行数据检测以及收集,进而对其收集的数据进行判断分析。

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权利要求:

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