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申请/专利权人：意法半导体国际公司
摘要：本公开涉及节省面积的高覆盖率快速诊断存储器扫描设计。本文公开的存储器系统特征在于左和或右存储体，具有与存储体对齐以用于管理数据输入和输出的左和或右输入输出IO块。位于左与右输入输出块之间的控制区段监督存储器操作、接收控制信号并执行卡滞测试。控制区段包括故障检测逻辑，其被设计为如果其每个外部输入处的逻辑值相同则输出第一逻辑值例如，逻辑低，但如果不是则输出第二逻辑值例如，逻辑高。故障检测逻辑能够通过执行卡在0和卡在1测试两者来检测外部输入中的卡滞故障。如果仅检测到卡在0或卡在1故障，那么故障检测逻辑能够通过迭代地改变其每个外部输入处的输入值并观察故障检测逻辑的输出来查明那些故障。
主权项：1.一种存储系统，包括：左存储体；左输入输出块，与所述左存储体对齐，用于处置数据输入和输出；右存储体；右输入输出块，与所述右存储体对齐，用于处置数据输入和输出；控制区段，位于所述左输入输出块与所述右输入输出块之间，用于管理存储器操作、接收控制信号和执行卡滞测试；以及所述控制区段内的故障检测逻辑，被配置为如果其所有外部输入都是相同的则输出第一逻辑值并且如果其所有外部输入不都是相同的则输出第二逻辑值，所述故障检测逻辑还被配置为通过以下操作来检测并定位在故障检测逻辑的外部输入中的卡滞故障：通过接收外部输入中的每个外部输入作为第二逻辑值并观察故障检测逻辑的输出是否是第二逻辑值来执行卡在0测试；以及通过接收外部输入中的每个外部输入作为第一逻辑值并观察故障检测逻辑的输出是否是第二逻辑值来执行卡在1测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 意法半导体国际公司 节省面积的高覆盖率快速诊断存储器扫描设计
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