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申请/专利权人：陕西正泽生物技术有限公司
摘要：本发明涉及物理分析技术领域，具体涉及一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法，包括：获取同一待测样品的多个放射性薄层色谱图，分析每个峰的差异性、差异均值和变异系数，结合展开缸内的温度值进行调控，计算每个峰的峰态离差值及温度调控有效峰。最后根据色谱峰态调控效能指数和色谱重现性综合指数，评估调控后每个放射性薄层色谱图的重现性。本发明增强了检测的重现性，提升了整体的检测准确性。
主权项：1.一种用于放射性薄层扫描仪的薄层扫描测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取同一待测样品的多个放射性薄层色谱图；获取每个展开缸内的初始温度值；所述放射性薄层色谱图的横坐标为时间，纵轴标为放射性信号强度；获取每个放射性薄层色谱图中峰的个数和面积；根据每个放射性薄层色谱图中每个峰的放射性信号强度、时间值、面积及展开缸的个数，获取每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性；根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个峰的差异均值；根据所有放射性薄层色谱图每个峰的差异性获取每个放射性薄层色谱图每个峰的综合均值；根据每个峰的差异均值、每个放射性薄层色谱图中峰的个数及每个峰的综合均值，获取每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数；根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数及每个展开缸内的初始温度值，获取调控后的每个放射性薄层色谱图；根据每个放射性薄层色谱图每个峰的差异性，获取调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值；根据每个放射性薄层色谱图每个峰的变异系数、调控后每个放射性薄层色谱图中的温度调控有效峰及每个峰的峰态离差值，获取每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数；根据每个放射性薄层色谱图的色谱峰态调控效能指数以及每个放射性薄层色谱图所有峰的变异系数，获取调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数；根据调控后每个放射性薄层色谱图的色谱重现性综合指数评价薄层扫描检测的准确性。
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