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申请/专利权人：森一量子科技(厦门)有限公司
摘要：本发明提供了一种法拉第旋光片性能评估系统，包括光源控制设备、数据采集设备、数据处理设备；其中，所述光源控制设备包括光源、准直器、起偏器、检偏器、光功率计；所述数据采集设备用于获取法拉第旋光片测试的插入损耗和隔离度；所述数据处理设备存储数据采集设备获取的数值进行缺陷点判断及记录位置信息，为后续裁切设计提供信息。本发明可以对大面积法拉第旋光片进行初检，性能合格的产品直接进入精密加工工序，避免成品出现不合格品，快速且更加准确测试产品的性能，提前对裁切进行规划，提升利用率与生产效率，有利于工业化生产。
主权项：1.一种法拉第旋光片性能评估系统，其特征在于，包括以下步骤：S101，将待测样划分若干子集，利用数据采集设备获取每个子集的坐标信息，每个子集为一个测试点，设置电机步进长度等于子集的边长；S102，将起偏器与检偏器调整为平行模式或45°模式，控制电机移动分别对每个子集进行插入损耗或隔离度测试；S103，利用数据处理设备按照预先定义的相关函数进行缺陷点判断及个数统计，同时统计扫描点总数量，得到待测样的预测综合收率；S104，记录缺陷点的坐标信息与其插入损耗和隔离度数值。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 森一量子科技(厦门)有限公司 一种法拉第旋光片性能评估系统
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