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用于检测电磁辐射的组件以及生产用于检测电磁辐射的组件的方法 

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申请/专利权人:AMS国际有限公司

摘要:一种组件包括:具有有源像素阵列2的半导体器件1;安装在有源像素阵列外部的一个或更多个读出电路芯片3,以及有源像素阵列2与一个或更多个读出电路芯片3之间的电连接,所述一个或更多个读出电路芯片3被配置为读出由有源像素阵列2提供的电压或电流。

主权项:1.一种用于检测电磁辐射的组件,包括:具有主表面11的半导体器件1,所述半导体器件1包括半导体晶圆,所述主表面11处的有源像素阵列2,所述有源像素阵列2集成在所述半导体晶圆中以形成晶圆级成像传感器;一个或更多个读出电路芯片3,其在所述有源像素阵列2的区域外部的主表面11的外围上安装到所述半导体晶圆,所述一个或更多个读出电路芯片3被配置为读出由所述有源像素阵列2提供的电压或电流,以及所述有源像素阵列2与所述一个或更多个读出电路芯片3之间的电连接8、10。

全文数据:

权利要求:

百度查询: AMS国际有限公司 用于检测电磁辐射的组件以及生产用于检测电磁辐射的组件的方法

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