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申请/专利权人:华润科学技术研究院有限公司
摘要:本申请实施例提供了一种基于微流控芯片的温度校准方法和装置、测试机,属于微电子技术领域。微流控芯片的每一分区设有加样缓冲组件,所述加样缓冲组件包括:加样缓冲池、废液空腔池、扩增反应区、第一微管路和第二微管路;该方法包括:获取每一所述温度检测模块采集的检测温度数据和检测特性信息;根据检测特性信息和预设的候选校准操作中筛选出目标校准操作;其中,目标校准操作表征校准检测温度数据的操作;根据目标校准操作获取温度检测模块的校准系数;根据校准系数对检测温度数据进行温度校准得到校准温度数据。本申请实施例能够提高微流控芯片的温度检测精度。
主权项:1.一种基于微流控芯片的温度校准方法,其特征在于,所述微流控芯片的每一分区设有加样缓冲组件,所述加样缓冲组件包括:加样缓冲池、废液空腔池、扩增反应区、第一微管路和第二微管路,所述第一微管路的一端接通所述加样缓冲池,另一端接通所述扩增反应区;所述第二微管路一段接通所述加样缓冲池,另一端接通所述废液空腔池,所述微流控芯片设有对应于所述扩增反应区的温度检测模块,所述温度检测模块用于采集每一分区的检测温度数据;所述方法包括:获取每一所述温度检测模块采集的所述检测温度数据;获取每一所述温度检测模块的检测特性信息;根据所述检测特性信息和预设的候选校准操作中筛选出目标校准操作;其中,所述目标校准操作表征校准检测温度数据的操作;根据所述目标校准操作获取所述温度检测模块的校准系数;根据所述校准系数对所述检测温度数据进行温度校准,得到校准温度数据。
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百度查询: 华润科学技术研究院有限公司 基于微流控芯片的温度校准方法和装置、测试机
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