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申请/专利权人：江苏科技大学
摘要：本发明提出了一种基于RT‑DETR检测器的PCB表面缺陷检测方法，包括以下步骤S1、采集PCB缺陷图像，对PCB缺陷图像进行预处理，标注PCB缺陷图像信息中的缺陷类别，并构建PCB缺陷检测数据集；S2、构建由改进的骨干网络、改进的混合编码器和带辅助预测头的变压器解码器组成的初始缺陷检测模型；S3、构建最终的目标损失函数训练初始缺陷检测模型，以获取优化的缺陷检测模型；S4、根据PCB缺陷检测数据集和优化的缺陷检测模型，获取缺陷检测结果。本发明的方法不仅能够考虑小目标缺陷检测，还能对复杂背景进行有效抑制，建立了快速、精确的缺陷检测模型，对PCB质量决策具有重要意义。
主权项：1.一种基于RT-DETR检测器的PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、采集PCB缺陷图像，对PCB缺陷图像进行预处理，标注PCB缺陷图像信息中的缺陷类别，并构建PCB缺陷检测数据集；S2、构建由改进的骨干网络、改进的混合编码器和带辅助预测头的变压器解码器组成的初始缺陷检测模型；将原始骨干网络替换成Resnet18，所述ResNet18是由一个7×7卷积层、一个最大池化层、4个basicblock和一个全连接层组成，将ResNet18中的4个basicblock替换为4个Faster-EMABlock，所述Faster-EMABlock由PConv、2个Conv和EMA注意力机制组成，在两个Conv之间放置归一化BN和激活层Relu，形成改进的骨干网络；将原始的混合编码器中的多头自注意力机制MHSA替换成级联组注意力机制CGATT，将CCFM模块替换为层次尺度感知网络HS-PAN，形成改进的混合编码器；S3、构建最终的目标损失函数训练初始缺陷检测模型，以获取优化的缺陷检测模型；S4、根据PCB缺陷检测数据集和优化的缺陷检测模型，获取缺陷检测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 江苏科技大学 一种基于RT-DETR检测器的PCB表面缺陷检测方法及系统
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