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申请/专利权人：北京中电华大电子设计有限责任公司

摘要：本发明为一种具有失调校准的低成本模拟测试电路，实现了模拟信号的高度自动化测量，可广泛应用于模拟电路中的直流电压电流的测量与筛选。在IC行业激烈竞争的今天，测试资源非常紧缺，降低测试时间，尽可能减少测试资源的占用，对降低芯片成本具有重要意义。在相同测试成本下，也可通过投入更多测试项，利用丰富的测试手段解决电路设计中难以解决的问题成为可能。本设计实现了片内高度自动化测试，在使用很少的测试资源基础上，可以快速且高精度的完成多项测试。设计仅使用一个测试PAD实现多信号的测试，既减少了PAD面积和封装成本，也防止芯片内部信号直接输出到PAD，提高芯片的安全性。另外，设计具有失调校准功能，以提高测试精度。

主权项：1.一种具有失调校准的低成本模拟测试电路，其特征在于，仅用一个测试PAD完成多路片内直流电压和电流的TRIM、测量及筛选，其组成结构包括：基准百分比产生电路、电压比较器、电流比较器、待测电压信号选择器和逻辑电路、开关S2、开关S3，其中基准百分比产生电路的一个输入端口连接名为TST_PAD的芯片PAD，一个输出端VREF_PERCENT连接电压比较器输入端VIN，基准百分比产生电路的另一个输出VREF_OFFSET通过开关S3连接电压比较器的输入端VIP，同时电压比较器输入端VIP连接待测信号选择器的输出VOL_SEL；通过将VREF_OFFSET与VREF_PERCENT电压进行比较，可以实现对基准百分比产生电路和电压比较器的失配进行检测校准；通过将VOL_SEL信号与VREF_PERCENT电压进行比较，比较结果VCOMP_OUT输出给逻辑电路进行判断，实现电压待测信号的测试功能；电流测试功能通过电流比较器实现，电流比较器一个输入端通过开关S2连接名为TST_PAD的芯片PAD，进行电流比较时TST_PAD外灌基准电流，有片内待测电流经电流比较器进行比较，比较结果CCOMP_OUT输出给逻辑电路进行判断，实现电流待测信号的测试功能，所述的基准百分比产生电路，包括开关S1、OFFSET校正电阻串1、OFFSET校正电阻串2、百分比分压调节电阻串、以及OFFSET校正基准产生电阻串，所述的基准百分比产生电路的输入端连接名为TST_PAD的芯片PAD，用于芯片测试过程中施加片外基准电压；M+1位的输入控制信号COMP_OFFSET_TRIMM:0调节OFFSET校正电阻串1和OFFSET校正电阻串2，用于校准比较器offset；N+1位的输入控制信号VREF_PERCENT_SELN:0调节百分比分压调节电阻串，用于输出不同缩放比例的基准电压VREF_PERCENT；所述的基准百分比产生电路的输出按百分比缩放的基准电压VREF_PERCENT连接电压比较器的负向输入端VIN；所述的基准百分比产生电路的输出OFFSET校正基准电压VREF_OFFSET通过开关S3连接到电压比较器的负向输入端VIP；所述的电压比较器，其正向输入端VIP通过开关S3连接所述基准百分比产生电路的输出VREF_OFFSET，同时其正向输入端VIP连接待测信号选择器的输出信号VOL_SEL，其负向输入端连接基准百分比产生电路的输出VREF_PERCENT，其输出端VCOMP_OUT连接逻辑电路的一个输入端；所述的电流比较器，其输入端之一通过开关S2连接芯片的TST_PAD，其它X+1个输入端连接X+1路待测电流信号CURRENT_TESTX:0；同时具有X+1位的待测电流选择控制信号CURRENT_SELX:0，用于选择待测电流；其输出端CCOMP_OUT连接逻辑电路的另一个输入端。

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