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申请/专利权人：江南大学
摘要：本发明公开了一种基于光栅型结构验证界面对光电探测器影响的方法，包括如下步骤：S1、构建不同节数的光栅型同质结光电探测器；S2、通过光电测试系统测量不同节数的所述光栅型同质结光电探测器的响应时间，通过响应时间的不同验证界面对同质结光电探测器的影响。本发明通过构建不同节数的光栅型同质结光电探测器，并表征光电探测器的响应时间，通过响应时间验证相邻节数之间的界面对光电探测器的影响，验证方法简单，说服力强；界面对光电探测器影响的研究，为构建基于光栅型同质结结构的非易失存储器提供有效数据支撑。
主权项：1.一种基于光栅型结构验证界面对光电探测器影响的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、构建不同节数的光栅型同质结光电探测器；S2、通过光电测试系统测量不同节数的所述光栅型同质结光电探测器的响应时间，通过响应时间的不同验证界面对同质结光电探测器的影响。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 江南大学 一种基于光栅型结构验证界面对光电探测器影响的方法
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