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一种固态硬盘耐久度测试方法、样本量计算方法及装置 

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申请/专利权人:苏州浪潮智能科技有限公司

摘要:本发明涉及固态硬盘耐久度测试领域,具体公开一种固态硬盘耐久度测试方法、样本量计算方法及装置,提取固态硬盘的功能失效率和不可纠正错误率;基于信心上限控制函数创建以功能失效率为影响因子的功能失效错误与样本量关系模型,以及以不可纠正错误率为影响因子的数据错误与样本量关系模型;确定耐久度测试的标准功能失效错误,将该标准功能失效错误代入功能失效错误与样本量关系模型,获得第一样本量;将第一样本量下的信心上限控制函数值代入数据错误与样本量关系模型,获得第二样本量;在第一样本量和第二样本量中,选取较大的样本量为测试样本量。本发明在保证测试质量的同时,提高测试样本量的精确度及测试效率,进而显著节省研发成本。

主权项:1.一种固态硬盘耐久度测试样本量计算方法,其特征在于,包括以下步骤:提取待测固态硬盘产品规格;根据待测固态硬盘产品规格,从存储端提取待测固态硬盘的功能失效率和不可纠正错误率;基于信心上限控制函数创建以功能失效率为影响因子的功能失效错误与样本量关系模型,以及以不可纠正错误率为影响因子的数据错误与样本量关系模型;确定耐久度测试的标准功能失效错误,将该标准功能失效错误代入功能失效错误与样本量关系模型,获得第一样本量;将第一样本量下的信心上限控制函数值代入数据错误与样本量关系模型,获得第二样本量;在第一样本量和第二样本量中,选取较大的样本量为测试样本量;其中,基于信心上限控制函数所创建的功能失效错误与样本量关系模型,由以下公式表示:UCLFF=FFR*样本量(1)其中,UCL表示信心上限控制函数,FF表示功能失效错误,FFR表示功能失效率;其中,基于信心上限控制函数所创建的数据错误与样本量关系模型,由以下公式表示:UCLDE=TBW*8*1012*UBER*样本量(2)其中,DE表示数据错误,TBW表示以TB字节为单位的总的数据写入量,UBER表示不可纠正的错误率。

全文数据:

权利要求:

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