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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要：本申请涉及一种增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法，其中，增益介质精密装夹定位测量装置，用于对增益介质进行精确定位，以确保其位置和方向的精确控制；同时，通过增益介质性能分析方法对增益介质的关键参数进行测量，同时能够分析和处理测量结果，提供对增益介质性能的评估和检验。本申请可以提供更高精度的装夹定位测量，从而使生产过程更加准确和高效；通过减少装夹误差，可以降低生产过程中的废品率，提高产品的质量和产量。
主权项：1.一种增益介质性能分析方法，其特征在于，包括：获取不同入射波长下增益介质的入射光强数据和透射光强数据；根据所述入射光强数据和所述透射光强数据计算吸光度；采用层次聚类算法将不同入射波长下的吸光度划分为多个群组；根据所述多个群组计算不同入射波长下吸光度的相关性；根据所述相关性确定增益介质的性能。
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权利要求：
百度查询： 中国科学院西安光学精密机械研究所 增益介质精密装夹定位测量装置及增益介质性能分析方法
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