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申请/专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所

摘要：本发明涉及一种多狭缝色散型高光谱成像系统数据误差分析方法，特别涉及一种多狭缝色散型高光谱成像系统重构数据误差分析方法，解决了现有技术缺乏多狭缝色散型高光谱成像系统重构数据误差分析方法导致重构数据精度低的问题。该方法包括步骤：步骤1：确定误差源范围；步骤2：对各误差源独立执行步骤a至d；步骤a：加载误差源误差获取加载误差的其余狭缝高光谱数据；步骤b：判断误差是否可校正；若是先校正再对校正后的加载误差的其余狭缝高光谱数据与基准狭缝高光谱数据仿真重构；若否则对基准狭缝高光谱数据与加载误差的其余狭缝高光谱数据仿真重构；步骤c：计算重构误差；步骤d：与设定的重构误差阈值比较，大于其则为主要重构误差源。

主权项：1.一种多狭缝色散型高光谱成像系统重构数据误差分析方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1：对影响多狭缝高光谱数据一致性的误差源进行梳理，确定误差源范围；步骤2：对步骤1中确定的误差源范围内的各误差源独立的依次执行步骤a至步骤d，以独立分析各误差源是否为引起多狭缝高光谱数据差异性的主要重构误差源，直至对所有误差源执行完步骤a至步骤d，定位到引起多狭缝高光谱数据差异性的所有主要重构误差源，分析完成；所述步骤a至步骤d为：步骤a：将多狭缝色散型高光谱成像系统中其中一个狭缝定义为基准狭缝，将除基准狭缝以外的其余狭缝，定义为其余狭缝，并将基准狭缝获取的各地元的原始高光谱数据，记为各地元的基准狭缝高光谱数据；然后根据误差源所属的误差源类型，对所述各地元的基准狭缝高光谱数据在仿真成像过程中加载与所述其余狭缝中每个狭缝一一对应的该误差源误差各一次，获取各地元加载误差的其余狭缝高光谱数据；步骤b：判断误差源误差是否可校正；若是，则先对步骤a中获取的各地元加载误差的其余狭缝高光谱数据分别进行校正，然后再对各地元校正后的加载误差的其余狭缝高光谱数据与步骤a中所述各地元的基准狭缝高光谱数据进行仿真重构，获取各地元校正误差后的多狭缝高光谱重构数据；若否，则对步骤a中获取的各地元的基准狭缝高光谱数据与各地元加载误差的其余狭缝高光谱数据进行仿真重构，获取各地元不可校正误差的多狭缝高光谱重构数据；步骤c：将步骤b中获取的各地元校正误差后的多狭缝高光谱重构数据或各地元不可校正误差的多狭缝高光谱重构数据，与步骤a中所述各地元的基准狭缝高光谱数据进行对比评估，计算误差源引起的重构误差；步骤d：将步骤c中计算得到的误差源引起的重构误差与设定的重构误差阈值进行比较，若误差源引起的重构误差大于设定的重构误差阈值，则确定该误差源为引起多狭缝高光谱数据差异性的主要重构误差源，反之则不是引起多狭缝高光谱数据差异性的主要重构误差源。

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