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申请/专利权人：美光科技公司
摘要：本申请案涉及检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备。一种实例设备包含：耦合到输入端子的输入缓冲器，其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号；测试端子，其经配置以接收探测信号；以及电力供应端子，其经配置以接收外部供应电压。所述实例设备进一步包含测试逻辑电路，其经配置以响应于所述探测信号指示测试且外部供应电压检测信号具有指示所述外部供应电压的检测的值，起始探测接触检测测试。在所述起始探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以接收所述输入信号，且提供具有基于所述输入信号的值的输出信号。
主权项：1.一种设备，其包括：输入缓冲器，其耦合到输入端子，其中所述输入缓冲器经配置以基于在所述输入端子处接收到的电压提供输入信号；测试端子，其经配置以接收探测信号；电力供应端子，其经配置以接收外部供应电压；以及测试逻辑电路，其经配置以响应于所述探测信号指示测试且外部供应电压检测信号指示所述外部供应电压的检测，起始探测接触检测测试，其中所述测试逻辑电路包括逻辑门，且其中在所述起始探测接触检测测试期间，所述测试逻辑电路经配置以接收来自于所述输入缓冲器的所述输入信号、且经配置以致使所述逻辑门基于来自于所述输入缓冲器的所述输入信号而提供输出信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美光科技公司 用以检测外部端子处的测试探测接触的方法和设备
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