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申请/专利权人：中国科学院光电技术研究所

摘要：本发明公开了一种光学元件表面钢块位置坐标的定位调试与测量方法，本发明方法是利用三点升降调节架支撑光学元件底部球面，采用工形靶座作为激光跟踪仪球形靶球的测量座，用于接触测量获取光学元件环口平面和圆心；将激光跟踪仪分别安装于光学元件侧面和底部，使用工形靶座与光学元件环口平面、外圆柱面接触，通过工形靶座上放置球形靶球测量光学元件几何参数建立坐标系，利用激光跟踪仪实时坐标对需粘贴钢块的位置进行定位调试；本发明解决了光学元件需同一工件坐标系下完成外圆柱面及底部球面钢块粘贴位置的调试与测量问题，具有检测基准统一、复现性好等特点。

主权项：1.一种光学元件表面钢块位置坐标的定位调试与测量方法，其特征在于：所述方法包括以下步骤：步骤一，选择适合的工形靶座；其中，所述工形靶座作为激光跟踪仪的靶球的测量靶座；所述工形靶座具有“工”字结构，且包括上靶座、圆柱体及下靶座；所述上靶座、下靶座及圆柱体均采用圆柱形钢件制成，各圆柱形钢件的长度及直径尺寸大小根据被测的所述光学元件的环口平面宽度、外圆柱厚度尺寸所决定；所述激光跟踪仪包括第一激光跟踪仪和第二激光跟踪仪；步骤二，组装及标定工形靶座，具体包括以下步骤；（1）将上靶座和下靶座分别连接于圆柱体两端，完成组装后形成所述“工”字结构；（2）标定圆柱体的直径尺寸；（3）调试上靶座和下靶座分别与圆柱体轴线同心；（4）调试上靶座和下靶座的端面分别与圆柱体轴线垂直；步骤三：采用激光跟踪仪结合工形靶座测量光学元件并建立坐标系，调试待粘贴钢块位置并进行钢块粘贴；所述步骤三包括以下具体步骤：（1）利用三点可调升降架支撑光学元件底部球面，在光学元件侧面安装第一激光跟踪仪；将工形靶座的上靶座下端面与光学元件环口平面接触贴紧，将工形靶座的圆柱体与光学元件外圆柱面接触贴紧，将球形的所述靶球续光后放置于上靶座中心，通过第一激光跟踪仪测量光学元件几何参数并建立第一工件坐标系；（2）在所述第一工件坐标系下，依次调试所有外圆柱面的待粘贴钢块的位置并进行钢块粘贴；（3）在光学元件底部球面安装第二激光跟踪仪，将工形靶座的上靶座下端面与光学元件环口平面接触贴紧，将工形靶座的圆柱体与光学元件外圆柱面接触贴紧，将所述靶球续光后放置下靶座中心，并通过下靶座磁力定位球吸附靶球，利用第二激光跟踪仪测量光学元件几何参数并建立第二工件坐标系；（4）在所述第二工件坐标系下，依次调试底部球面待粘贴钢块的位置并进行钢块粘贴；步骤四：复验钢块位置坐标。

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