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申请/专利权人：深圳市英伟胜科技有限公司

摘要：本发明适用于图像检测的技术领域，提供了一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法及装置，所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括：通过获取待检测物体在同一位置上，第一待检测图像和第二待检测图像。通过与标准图像进行比对，该方案能够分别提取第一待检测图像和第二待检测图像中的差异区域的目标外接矩形框。根据目标外接矩形框的位置信息，在第一待检测图像和第二待检测图像中截取第一子图像和第二子图像。通过缺陷检测模型对这些特征进行处理和分析，可以得到针对划痕、刮痕、凹凸、变形、异物和变色等缺陷类型的检测结果。总体而言，该技术方案可以实现对笔记本电脑外壳等物体的缺陷类型识别，并提高检测的精度和准确性。

主权项：1.一种笔记本电脑外壳的缺陷检测方法，其特征在于，所述笔记本电脑外壳的缺陷检测方法包括：获取待检测物体在同一位置上，顶面光源对应的第一待检测图像和侧面光源对应的第二待检测图像；所述待检测物体包括所述笔记本电脑外壳；将所述第一待检测图像和所述第二待检测图像，分别与标准图像进行比对；分别提取所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中差异区域的目标外接矩形框；所述差异区域是指所述第一待检测图像或所述第二待检测图像与所述标准图像存在差异的区域；根据所述目标外接矩形框对应的位置信息，分别在所述第一待检测图像和所述第二待检测图像中，截取第一子图像和第二子图像；提取所述第一子图像和所述第二子图像中的差异像素点；计算所述差异像素点对应的两个像素点之间的像素差；所述差异像素点是指所述第一子图像、所述第二子图像与标准图像中相同像素位置的像素差值大于第一阈值的像素点；根据所述差异像素点的位置和所述像素差值，形成差异图像；所述第一待检测图像经过第一特征提取层处理，得到第一特征图像；缺陷检测模型包括第一特征提取层、第二特征提取层、第三特征提取层、第四特征提取层、下采样层和分类器；所述第二待检测图像经过第二特征提取层处理，得到第二特征图像；所述差异图像经过第三特征提取层处理，得到第三特征图像；计算所述第三特征图像和所述第一特征图像之间的第一相似度；计算所述第三特征图像和所述第二特征图像之间的第二相似度；若所述第一相似度大于所述第二相似度，则将所述第三特征图像和所述第一特征图像融合，得到融合图像；若所述第一相似度小于所述第二相似度，则将所述第三特征图像和所述第二特征图像融合，得到融合图像；所述融合图像经过所述第四特征提取层处理，得到第四特征图像；所述第四特征图像经过所述下采样层和所述分类器处理，得到所述缺陷检测结果；所述缺陷检测结果包括划痕、刮痕、凹凸、变形、异物和变色；其中，所述提取所述第一子图像和所述第二子图像中的差异像素点的步骤包括：将第一子图像与标准图像中的外壳图像对齐，对比两张图像之间相同像素位置的像素差，若相同像素位置的像素差值大于第一阈值，则将该像素点作为差异像素点；将第二子图像与标准图像中的外壳图像对齐，对比两张图像之间相同像素位置的像素差，若相同像素位置的像素差值大于第一阈值，则将该像素点作为差异像素点。

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