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申请/专利权人：上海新微技术研发中心有限公司
摘要：一种量子点测试系统，包括：倒置荧光显微镜系统、测试光路以及时间相关单光子探测装置；测试光路包括入射光路和出射光路，入射光路由激光器以及分束镜组成，激光器产生的激发光束经由分束镜反射进入倒置荧光显微镜系统；倒置荧光显微镜系统中的样品被激发光束激发后产生荧光信号，荧光信号以相反于入射光路的方向进入时间相关单光子探测装置。本申请提供一种量子点测试系统，基于倒置荧光显微镜系统以及时间相关单光子探测系统，可以准确高效的实现对单个量子点谱学性质的测量，进一步对量子点激光增益可行性进行分析。
主权项：1.一种量子点测试系统，其特征在于，包括：倒置荧光显微镜系统1、测试光路以及时间相关单光子探测装置3；所述测试光路包括入射光路和出射光路，所述入射光路由激光器21以及分束镜22组成，激光器21产生的激发光束经由分束镜22反射进入所述倒置荧光显微镜系统1；所述倒置荧光显微镜系统1中的样品11被所述激发光束激发后产生荧光信号，所述荧光信号以相反于所述入射光路的方向进入所述时间相关单光子探测装置3。
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百度查询： 上海新微技术研发中心有限公司 一种量子点测试系统
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