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申请/专利权人：杭州米芯微电子有限公司
摘要：本发明涉及电容测量技术领域，特别涉及一种电容测量方法及电容测量电路。所述电容测量方法包括：提供待测电容，所述待测电容的两端等效连接有第一寄生电容和第二寄生电容，通过对所述待测电容进行充电，并对充电时间进行计时，获得对应的充电时间，基于电容与充电时间的关系计算获得对应的电容值作为相应的充电电容值，通过对所述待测电容的多次放电、充电，获得每一次的相应的充电电容值，通过对获得的相应的充电电容值进行联立计算，即可获得所述待测电容的电容值，实现了完全消除所述寄生电容的影响，所述电容测量方法简单，且能够达到彻底消除寄生电容影响的目的，便于生产应用。
主权项：1.一种电容测量方法，其特征在于，包括：提供待测电容，所述待测电容的两端等效连接有第一寄生电容和第二寄生电容；将所述待测电容两端接低电平并完成放电，将所述待测电容的第一端接低电平，所述待测电容的第二端通过充电单元进行充电，直到输出高电平，获取对应的第一充电时间，基于电容与充电时间的关系计算获得第一充电电容值，所述第一充电电容值为所述待测电容的电容值与所述第二寄生电容的电容值之和；将所述待测电容两端接低电平并完成放电，将所述待测电容的第二端接低电平，所述待测电容的第一端通过所述充电单元进行充电，直到输出高电平，获取对应的第二充电时间，基于电容与充电时间的关系计算获得第二充电电容值，所述第二充电电容值为所述待测电容的电容值与所述第一寄生电容的电容值之和；将所述待测电容两端接低电平并完成放电，将所述待测电容的其中一端悬空，所述待测电容的另一端通过对应的所述充电单元的一端进行充电，直到所述待测电容的充电的一端输出高电平，获取对应的第三充电时间，基于电容与充电时间的关系计算获得第三充电电容值，所述第三充电电容值为所述第一寄生电容、所述待测电容串联后得到的电容值与所述第二寄生电容的电容值之和或者为所述第二寄生电容、所述待测电容串联后得到的电容值与所述第一寄生电容的电容值之和；基于所述第一充电电容值~所述第三充电电容值和所述第一充电时间~所述第三充电时间，运算获得所述待测电容的电容值。
全文数据：
权利要求：
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