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光学特性测量方法、装置及设备 

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申请/专利权人:西安诺瓦星云科技股份有限公司

摘要:本申请实施例提供了一种光学特性测量方法、装置及设备,该方法包括:获取显示阵列发光时的光谱数据;对光谱数据进行数据处理,得到显示阵列的光学特征信息;其中,光学特征信息包括峰值波长、半波宽、主波长、亮色度中的一项或多项。可以在显示阵列处于激活的状态下获取其光学特征信息,而显示阵列激活时发出的光为自发光,可以降低光学特征的差异,从而可以提高光学特性测量的准确性。

主权项:1.一种光学特性测量方法,其特征在于,包括:获取显示阵列发光时的光谱数据;对所述光谱数据进行数据处理,得到所述显示阵列的光学特征信息;其中,所述光学特征信息包括峰值波长、半波宽、主波长、亮色度中的一项或多项。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安诺瓦星云科技股份有限公司 光学特性测量方法、装置及设备

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