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试样支承体、离子化法和质量分析方法 

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申请/专利权人:浜松光子学株式会社

摘要:本发明的试样支承体具备:基板,其具有第一表面、与第一表面为相反侧的第二表面、和至少在第一表面开口的多孔质构造;保护层,其以覆盖多孔质构造的表面的方式设置;和导电层,其以覆盖保护层中的至少设置于第一表面上的部分的方式设置。

主权项:1.一种试样支承体,其中,为试样的离子化用的试样支承体,具备:基板,其具有第一表面、与所述第一表面为相反侧的第二表面、和至少在所述第一表面开口的多孔质构造;保护层,其以覆盖所述多孔质构造的表面的方式设置;和导电层,其以覆盖所述保护层中的至少设置在所述第一表面上的部分的方式设置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 浜松光子学株式会社 试样支承体、离子化法和质量分析方法

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