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申请/专利权人：江苏拓尔奇光电技术有限公司
摘要：本发明公开了一种集成电路主板的性能检测分析方法及系统，涉及集成电路板技术领域，该方法包括：对集成电路主板进行应用数据采集，并建立测试场景；读取生产数据，按生产批次进行比例样本选定，建立测试样本集；以测试场景建立测试方案集，并进行样本影响评价，基于影响评价结果配置测试顺序；将测试结果进行自适应结果聚类，并建立基准值和稳态标识；进行测试场景的重要度赋值，并建立性能评价网络；将基准值和稳态标识输入至性能评价网络，生成性能评价结果。本发明解决了现有技术中现有电路主板性能检测手段的局限性，导致检测的准确性低的技术问题，达到了提高性能检测结果与场景的适配度，进而提高检测结果的准确性的技术效果。
主权项：1.一种集成电路主板的性能检测分析方法，其特征在于，所述方法包括：对集成电路主板进行应用数据采集，并依据应用数据采集结果建立测试场景，其中，所述测试场景带有应用频率和场景价值度的映射；建立与生产的数据连接，并在读取生产数据后，按生产批次进行比例样本选定，建立测试样本集，其中，所述测试样本集中每一样本均设定有唯一标识码；以所述测试场景建立测试方案集，并对所述测试方案集进行样本影响评价，基于影响评价结果配置测试顺序，并以唯一标识码记录测试结果；将测试结果进行自适应结果聚类，并以聚类结果建立基准值和稳态标识；通过应用频率和价值度进行测试场景的重要度赋值，并基于赋值结果建立性能评价网络；将基准值和稳态标识输入性能评价网络，生成性能评价结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 江苏拓尔奇光电技术有限公司 一种集成电路主板的性能检测分析方法及系统
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