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申请/专利权人：深圳市迈测科技股份有限公司
摘要：本申请提供了一种信号采样方法和测距装置，方法应用于测距装置。方法包括向待测对象发射测距信号，在接收到测距信号对应的反射信号时，使用初始时钟对反射信号进行采样，获取初始采样数据；若初始采样数据为阶跃信号，获取阶跃信号对应的至少一个移相相位，使用移相相位对初始时钟的时钟相位进行移相；根据移相后初始时钟的数量依次向待测对象发射测距信号，在接收到测距信号对应的反射信号时，使用每个移相后的初始时钟对每个反射信号进行采样，获取每个反射信号对应的移相采样数据；根据初始采样数据和移相采样数据进行循环插入拼接，获取目标采样数据。通过测距装置所支持的较低频率的初始时钟进行移相后再采样，实现高时钟频率的采样效果。
主权项：1.一种信号采样方法，其特征在于，应用于测距装置，所述测距装置内生成有初始时钟；所述方法包括：向待测对象发射测距信号，在接收到所述测距信号对应的反射信号时，使用初始时钟对所述反射信号进行模数采样，获取初始采样数据；若所述初始采样数据为阶跃信号，获取所述阶跃信号对应的至少一个移相相位，依次使用每个所述移相相位对所述初始时钟的时钟相位进行移相；根据移相后的所述初始时钟的数量依次向所述待测对象发射所述测距信号，在接收到每个所述测距信号对应的反射信号时，依次使用每个移相后的所述初始时钟对每个所述反射信号进行模数采样，获取每个所述反射信号对应的移相采样数据；根据所述初始采样数据和所述移相采样数据进行循环插入拼接，获取目标采样数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市迈测科技股份有限公司 信号采样方法和测距装置
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