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一种InGaN基可见光探测器及其制备方法和应用 

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申请/专利权人:华南理工大学

摘要:本发明公开了一种InGaN基可见光探测器及其制备方法和应用。本发明的InGaN基可见光探测器的组成包括依次层叠设置的背电极层、Si晶圆衬底、InGaN‑In2X3复合纳米柱层和表面电极层。本发明的InGaN基可见光探测器的制备方法包括以下步骤:1在Si晶圆衬底的单面制备InGaN纳米柱阵列;2制备InGaN‑In2X3复合纳米柱层;3蒸镀背电极层;4蒸镀表面电极层。本发明的InGaN基可见光探测器具有响应速度快、探测性能优异等优点,且其制备方法简单、可控,适合进行大规模工业化应用。

主权项:1.一种InGaN基可见光探测器,其特征在于,组成包括依次层叠设置的背电极层、Si晶圆衬底、InGaN-In2X3复合纳米柱层和表面电极层;所述InGaN-In2X3复合纳米柱层的组成包括由若干InGaN纳米柱构成的InGaN纳米柱阵列,还包括包覆在InGaN纳米柱表面的In2X3壳层,X为硫属元素;所述InGaN-In2X3复合纳米柱层是由包括以下步骤的制备方法制成:采用化学气相沉积法使InGaN纳米柱阵列表层的InGaN转化为In2X3,并通过调控硫化时间来控制In2X3的含量比例。

全文数据:

权利要求:

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